主頁 > 技術(shù)文章 > 電工電子分層實驗--集成邏輯門的功能測試 2021-12-02

電工電子分層實驗--集成邏輯門的功能測試

任務(wù)：
一、完成“與非”門、“或非”門的邏輯功能測試和門控制功能實驗，應(yīng)用邏輯門實現(xiàn)簡單的組合邏輯電路。（C類）
（1）完成TTL“與非”門74LS00的邏輯功能及輸入輸出端電平的測試，將測試結(jié)果記錄于表1中。
（2）完成CMOS“或非”門CD4001邏輯功能和門的控制功能測試，將邏輯功能測試結(jié)果記錄于表1中，記錄門控制功能實驗的輸入輸出波形。
（3）用1片TTL“與非”門74LS00芯片實現(xiàn)“異或”運算，并進行邏輯功能測試，將測試結(jié)果記錄于表1中。用“與非”門實現(xiàn)“異或”運算的邏輯表達式為：

，邏輯電路圖如圖1所示。
表1 門電路邏輯功能及“與非”門輸入輸出電平測試實驗結(jié)果

邏輯關(guān)系測試結(jié)果		輸入輸出電平測試結(jié)果
A	B	A端電平值（V）	B端電平值（V）	端電平值（V）
0	0
0	1
1	0
1	1

圖1用“與非”門實現(xiàn)“異或”運算的電路圖

二、用2片74LS00設(shè)計一個能實現(xiàn)“同或”運算的電路，并對電路進行邏輯功能測試，自行列表記錄邏輯功能測試結(jié)果。（B類）
三、用1片CD4001設(shè)計一個能實現(xiàn)“同或”運算的電路，并對電路進行邏輯功能測試，自行列表記錄邏輯功能測試結(jié)果。（A類）

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